超分辨率顯微

在主流的光學(xué)超分辨顯微成像技術(shù)中，SIM（Structured Illumination Microscopy）憑借高時(shí)空分辨率、低光毒性和三維成像能力等眾多優(yōu)點(diǎn)。SIM是根據莫爾效應提出的一種技術(shù)。其原理為：利用空間有結構的光束來(lái)激發(fā)熒光，激發(fā)圖形和熒光團密度的混合頻率，將樣品中通常不可見(jiàn)的高頻信息攜帶到顯微鏡的可見(jiàn)低通頻帶；在使用中通常用DMD作為機構光發(fā)生模塊，改變圖案的方向和相位，記錄熒光結果并對得到的多個(gè)圖像數據集進(jìn)行適當的處理，提取攜帶的高頻信息并重建出超分辨率圖像。SIM 橫向分辨率理論上可以達到傳統熒光顯微鏡的兩倍，且其成像速度快，對熒光標記沒(méi)有特殊要求。這些特點(diǎn)使得 SIM 在細胞生理學(xué)、細胞動(dòng)力學(xué)等亞細胞水平的生命科學(xué)研究中有更廣闊的應用前景。